檢測(cè)反射位置并測(cè)量其強(qiáng)度

AQ7420可以精確檢測(cè)光連接器和模塊內(nèi)的反射量和位置。它揭示標(biāo)準(zhǔn)損耗測(cè)量可能漏失的微裂紋，幫助避免不可預(yù)測(cè)和潛在有害的故障，這在受運(yùn)動(dòng)、振動(dòng)和熱循環(huán)影響的苛刻環(huán)境中尤為重要。與可選的傳感器頭單元配對(duì)時(shí)，它還可以同時(shí)測(cè)量插入損耗，使AQ7420成為檢查光連接器及模塊的理想多用途儀器。

虛假噪聲降低

在一些常規(guī)反射計(jì)中，假噪聲可能會(huì)在沒有實(shí)際反射的區(qū)域虛假出現(xiàn)。波形分析通常需要用戶對(duì)這種現(xiàn)象有專門的知識(shí)。AQ7420大大減少了假噪聲并簡化了分析。

• 測(cè)量距離:100毫米（約4英寸）

• 空間分辨率:40μm

• 虛假噪聲:?100分貝可避免虛假（鬼魅）效果

同時(shí)測(cè)量多重反射和插入損耗

傳統(tǒng)上，由于垂直軸（背反射）的測(cè)量精度差，反射計(jì)不足以檢測(cè)反射衰減。AQ7420的測(cè)量不確定度為±3dB，使用光學(xué)傳感器頭，可以同時(shí)測(cè)量連接器連接損耗，不確定度達(dá)到±0.02 dB。

光學(xué)連接器微裂紋分析

AQ7420同時(shí)測(cè)量光連接器的斷裂、裂紋、損耗和反射。

光學(xué)連接器微裂紋測(cè)量實(shí)例（高靈敏度范圍）

高分辨率反射計(jì) AQ7420 用于光連接器和光模塊的質(zhì)量檢查 檢測(cè)反射位置和測(cè)量反射量 AQ7420 可準(zhǔn)確檢測(cè)光連接器和模塊內(nèi)反射的數(shù)量和位置。它揭示了標(biāo)準(zhǔn)損耗測(cè)量可能遺漏的微裂紋，有助于避免不可預(yù)測(cè)和潛在的有害故障，這在受運(yùn)動(dòng)、振動(dòng)和熱循環(huán)影響的苛刻環(huán)境中尤為有價(jià)值。當(dāng)與可選的傳感器頭單元配對(duì)時(shí)，它還可以同時(shí)測(cè)量插入損耗，使 AQ7420 成為檢測(cè)光連接器和模塊的理想多用途儀器。特點(diǎn) - 測(cè)量距離：100毫米（約4英寸） - 空間分辨率：40微米 - 雜散噪聲：-100 dB，避免了假（鬼）效應(yīng) - 同時(shí)測(cè)量多重反射和插入損耗 應(yīng)用 - 檢測(cè)關(guān)鍵通信基礎(chǔ)設(shè)施中使用的光連接器中的微裂紋，如： - 數(shù)據(jù)中心 - 海底光纖鏈路 - 蜂窩塔 （FTTA） - 空間衛(wèi)星鏈路 - 精確定位光學(xué)設(shè)備中內(nèi)部反射的位置和強(qiáng)度例如：- 用于通信的硅光子學(xué) - TOSA/ROSA

項(xiàng)目規(guī)格 測(cè)量波長 ?13NN：1310 nm，?1315：1310 nm / 1550 nm 測(cè)量距離范圍*1 100 mm 距離采樣分辨率*1 1、4、8 μm 空間分辨率*2、*3 40 μm 或更低 距離測(cè)量重復(fù)性*4、*6 50 μm 或更低 背向反射測(cè)量范圍 標(biāo)準(zhǔn)范圍：-14.7 至 -85 dB，高靈敏度范圍： ?50 至 ?100 dB 背向反射測(cè)量不確定度 *2， *5， *6， *7 正常范圍：±3 dB（?14.7 至 ?85 dB） 高靈敏度范圍：±3 dB（?50 至 ?90 dB）、±5 dB（?90 至 ?100 dB） 雜散噪聲*8 正常范圍：?85 dB 或更低*9 高靈敏度范圍：?100 dB 或更低*10 測(cè)量時(shí)間*11 約 6 秒 適用光纖 SMF （ITU-T G.652） 主絲 SMF （ITU-T G.652）， FC/PC 或 SC/PC 連接器 功能 通過控制軟件 性能保證環(huán)境*12、*13 18 至 28°C、參考后 ±2°C、20 至 70%RH、無冷凝

操作環(huán)境 10 至 40°C、20 至 70%RH（28°C 以下）、20 至 50%RH（35°C 以下）、20 至 35%RH 或更低（40°C 以下）、無冷凝 儲(chǔ)存環(huán)境 ?10 至 50°C、20 至 80%RH（40°C 以下）、20 至 40%RH（50°C 以下）、無冷凝 電源要求 100 至 240 VAC， 50/60 Hz、120 VA 或更低（AC 適配器） 尺寸和質(zhì)量*14 430 （W） × 132 （H） × 350 （D） mm（不包括保護(hù)器和手柄），大約。8 kg 激光安全標(biāo)準(zhǔn) EN 60825-1：2014+A11：2021、IEC 60825-1：2014、GB/T 7247.1-2023 1 類 建議校準(zhǔn)周期 1 年 標(biāo)準(zhǔn)附件 主控線、繼電器線、FC 適配器、距離調(diào)節(jié)線、USB 線、控制軟件 （CD）、交流適配器 控制軟件 主要功能 光回波損耗分布波形、反射點(diǎn)位置、光學(xué)反射損耗顯示、 判斷波形縮放、標(biāo)記功能等 推薦 PC*15 CPU：CORE i5,2 GHz 或更高，64 位，操作系統(tǒng)：Windows11，RAM：8 GB 或微塵，存儲(chǔ)空間：1 GB 或更高，顯示分辨率：1920 × 1080 點(diǎn)或更高，USB2.0 或更高。

*所有規(guī)格均在測(cè)量條件下預(yù)熱 1 小時(shí)后和 REF 后。*產(chǎn)品規(guī)格為波長設(shè)置為 1310 nm 時(shí)的情況。*1 折射率為 1.467 時(shí)（從連接的光纖jian端開始） *2 測(cè)量距離 0 mm *3 反射光脈沖波形的一半值寬度。*4 在溫度為 23°C 至 24°C 的空調(diào)房中，不包括因溫度引起的光纖膨脹的影響，當(dāng)穩(wěn)定性模式開啟時(shí)。*5 移動(dòng)光纖時(shí)，回波損耗值可能會(huì)波動(dòng)最多約 3 dB。*6 2 *7 平均 1 次（?14.7 dB 至 ?90 dB），如果小于 ?90 dB，則平均 5 倍。*8 由于設(shè)備特定特性而產(chǎn)生的偽反射波形。*9 測(cè)量偽反射光量時(shí) ?20 dB（0 mm 位置），平均 5 倍。*10 測(cè)量偽反射光量時(shí) ?50 dB（0 mm 位置），平均 5 倍。*11 測(cè)量距離 100 mm，距離測(cè)量樣品分辨率 8 μm，高靈敏度范圍：-50 至 -100 dB，平均 1 倍，因 PC 操作環(huán)境而異。*12 無溫度突變 （±10°C/h）。*13 涵蓋的規(guī)格：背向反射測(cè)量不確定度、距離測(cè)量可重復(fù)性、雜散噪聲。*14 不包括附件。*15 不包括用于控制的個(gè)人計(jì)算機(jī)。請(qǐng)準(zhǔn)備一臺(tái)具有推薦規(guī)格或更高版本的個(gè)人電腦。