為電池的安全測試提供更優(yōu)化的檢測方案，通過波形分析提升電池的檢測品質(zhì)
● 準確檢查絕緣性能，驗證電池和電機質(zhì)量
● 通過波形和數(shù)值顯示有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序、對收回的不合格產(chǎn)品進行分析、宣傳檢查的可靠性
● 防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出
● 防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測
● 支持廣泛的國際標準。搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測量功能。
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簡要描述：直流耐壓絕緣電阻測試儀ST5680EOL電池的安全測試提供更優(yōu)化的檢測方案，通過波形分析提升電池的檢測品質(zhì)
產(chǎn)品型號：ST5680EOL廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2024-10-30訪 問 量：432詳細介紹
| 品牌 | HIOKI/日本日置 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 類型 | 其他 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
為電池的安全測試提供更優(yōu)化的檢測方案，通過波形分析提升電池的檢測品質(zhì)
● 準確檢查絕緣性能，驗證電池和電機質(zhì)量
● 通過波形和數(shù)值顯示有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序、對收回的不合格產(chǎn)品進行分析、宣傳檢查的可靠性
● 防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出
● 防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測
● 支持廣泛的國際標準。搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測量功能。
這是提供更優(yōu)化的檢測品質(zhì)的直流耐壓絕緣電阻測試儀ST5680EOL的介紹。其性能可以支持各個國際標準的測試條件，應(yīng)對所有的直流耐壓測試。
ST5680EOL是能夠基于各種安全標準進行直流耐壓測試和絕緣電阻測試的測試儀。
不僅可以進行PASS/FAIL的合格與否判定，也可以顯示、記錄測試時的輸出電壓波形和泄漏電流波形。
將測試可視化分析，有助于檢查的溯源。
輸出電壓和泄漏電流以波形顯示
可以通過波形確認測試時輸出電壓或泄漏電流的動向。
在確認波形的同時，還可按時間順序確認電壓值、泄漏電流值、電阻值。
無需使用電腦即可進行波形放大顯示等操作，在現(xiàn)場就能進行詳細的分析。
有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序
通過分析檢查時的波形，可以推斷出生產(chǎn)工序中的不良因素。通過查明不良因素，優(yōu)化生產(chǎn)工序，從而能夠提高生產(chǎn)效率。
有助于對收回的不合格產(chǎn)品進行分析
可以把收回的不合格品與當初出廠檢測時的波形做比對。通過優(yōu)化合格品的判定標準，進一步提高生產(chǎn)質(zhì)量。
有助于宣傳檢查的可靠性
波形的記錄管理有利于檢查的可溯源性，構(gòu)筑更高品質(zhì)的檢查體系，可以提升客戶的信任。
可以檢測因為焊接毛刺或粉塵異物等原因發(fā)生的電弧放電。
將引起輕微絕緣不良的產(chǎn)品判斷為微小故障品，可以防止出廠后因發(fā)熱原因引起的火災(zāi)事故或故障等風險。
通過測量端子間的電容（雜散電容、被測物的電容），能判斷是否正確連接檢測對象。
防止將不合格品誤判為合格品
?測試中測試線脫落的情況
?測試部位間電阻增加的情況
例：測試線的老化、治具或高壓繼電器的老化等
可以輕松使用
?利用兩端子可以實現(xiàn)簡單的接線
ST5680EOL是向測試對象輸出高電壓，測試絕緣性能的測試儀。可以對從電子設(shè)備、電子零件、材料等的研究開發(fā)到生產(chǎn)線的廣泛對象進行安全測試。在電池中，用于電池模組、電池包、電芯的電極和外殼間的耐壓測試。
就算是測試對象含有電容成分的情況下，因為有不易發(fā)生過沖的設(shè)計，不會對測試對象輸出超過設(shè)置電壓的電壓，所以可以放心進行測試。
另外，通過配合延遲時間的設(shè)置，也可以不對充電電流流動的時間進行判斷，從而防止誤判。
※可測量的最大靜電電容量值200 nF (測量更大的電容值可能會導(dǎo)致測量時間變長，或者測量值的偏差變大。 ）
隨著電池和電機等絕緣性能的提高，對判斷耐壓測試合格與否的電流值設(shè)置要求也越來越高，要求設(shè)置為更小的電流。如果使用分辨率低的耐壓測試儀，則無法準確測量泄漏電流的測量值。ST5680EOL實現(xiàn)了最小分辨率0.001uA的高精度規(guī)格，因此可以正確測量微小的泄漏電流，判斷合格與否。
搭載了確認測試對象絕緣擊穿電壓的BDV（Break Down Voltage）功能 。
以一定速度提高輸出電壓，確認達到絕緣擊穿時的電壓。
測試方法按標準規(guī)定，有連續(xù)升壓測試和逐級升壓測試。
ST5680EOL兩種測試都可以實施。可用于電池開發(fā)時的性能評價(絕緣耐力評估)。
| 主要功能 | 直流耐壓測試、絕緣電阻測試、絕緣擊穿電壓測試、波形顯示功能、ARC放電檢測功能、接觸檢查功能 (詳情請參照“各測試·功能"表) |
|---|---|
| 功能一覽 | 聯(lián)鎖、自動放電、消除偏移、瞬時輸出、命令監(jiān)控、I/O HANDLER、按鍵鎖定、自檢、校準期限檢測、EXT SW（遠程控制） |
| 使用溫濕度范圍 | 0°C～40°C，80% RH或以下（無結(jié)露） |
| 適合標準 | 安全性：IEC 61010 EMC：IEC 61326 |
| 電源電壓 | AC 100 V ～ 240 V |
功耗 | 約180 VA※ ※ 電源條件為電源電壓220 V、電源頻率 50/60 Hz、測試模式直流耐壓測試、測試電壓2.5 kV、負載電流5 mA負載電阻500 kΩ）的情況下。 |
最大額定功率 | 800 VA |
接口 | 通訊：USB，LAN，EXT. I/O 選件：RS-232C（Z3001），GP-IB（Z3000） 存儲：U盤 |
尺寸·重量 | 305（W）×142（H）×430（D）mm（不含突起物） |
附件 | 電源線，CD-ROM（PDF：使用說明書，通訊使用說明書），EXT.I/O用公頭連接器，EXT.I/O用連接器蓋EXT.I/O用聯(lián)鎖解除治具，啟動指南 |
| 直流耐壓測試 | 輸出電壓：DC 0.050 kV ～ 3.000 kV(1 V分辨率) 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V） 輸出電流/截止電流：20 mA max 電流精度（*1）：3.00 mA ＜：±（1.5% rdg.＋2 μA）≤ 3.00 mA：±1.5% rdg. 最小分辨率：0.001 μA 測試時間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF） 電壓上升/下降時間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF 短路電流200 mA 以上 測試模式W→IR，IR→W，程序測試 |
|---|---|
| 絕緣電阻測試 | 輸出電壓：DC 50 V ～ 1000 V(1 V分辨率) 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V） 電阻值顯示范圍：100.00 kΩ ～ 200.0 GΩ（0.01 kΩ分辨率）精度保證范圍：100.00 kΩ ～ 99.99 GΩ 電阻精度：±（1.5% rdg. + 3 dgt.）*詳情參考下部表格 測試時間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF） 電壓上升/下降時間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF |
| 絕緣擊穿電壓測試 | 測試方法：連續(xù)升壓測試，逐級升壓測試 測量內(nèi)容：絕緣擊穿電壓（kV），絕緣擊穿的強度（kV/mm） 設(shè)定內(nèi)容：初始電壓，結(jié)束電壓，升壓速度，ARC檢測，電極間距離，電流上限值 檢測有效電壓：150V以上 |
| 波形顯示功能 | 波形顯示內(nèi)容：電壓，電流，絕緣電阻 采樣速度：500 kS/s 內(nèi)存容量：512 K words |
| ARC放電檢測功能 | 檢測方式：監(jiān)視試驗測試電壓的變動 設(shè)定內(nèi)容：測試電壓變動率1％～50％ 檢測有效電壓：150V以上 |
| 存儲功能 | ·波形·圖形 ·面板保存功能 ·數(shù)據(jù)存儲功能 |
| 判定功能（判定輸出） | 判定為PASS，判定為FAIL（UPPER FAIL，LOWER FAIL） UPPER_FAIL：測量值＞上限值 PASS：上限值≥測量值≥下限值 LOWER_FAIL：測量值＜下限值 |
| 注記（*1） | 環(huán)境溫度t不足5℃時加上±(1% rdg.×(5-t ) ) 環(huán)境溫度t超過35℃時加上±(1% rdg.×(t-35 ) ) |
| 測試范圍 | 100 kΩ ～ 99.99 GΩ | |
|---|---|---|
| 10 nA ≦ I ≦ 3 μA | 100 MΩ ～ 999.9 MΩ 1.00 GΩ ～ 99.99 GΩ | ±(20% rdg.) |
| 100 nA ≦ I ≦ 30 μA | 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ 100.0 MΩ ～ 999.9 MΩ | ±(5% rdg.) |
| 1 μA ≦ I ≦ 300 μA | 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ | ±(2% rdg. + 5 dgt.) |
| 10 μA ≦ I ≦ 3 mA | 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) |
| 100 μA ≦ I ≦ 20 mA | 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) |
| 注記（*2） | · 測試電壓為50 V?99 V時，測量精度加算±10% · 測試電壓為100 V?999 V時，測量精度加算±5% · 測試電壓為1000 V?2000 V時，測量精度加算±2% · 環(huán)境溫度t小于5℃時，加上測量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(5-t ) )，或者加上測量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(5-t ) ) · 環(huán)境溫度t超過35℃時，加上測量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(t-35 ) )，或者加上測量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(t-35 ) ) · 測定速度為FAST2時，測量精度加倍 | |
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